产品名称：
样品制备处理分析
概要信息：
产品描述
样品制备处理分析
在FIB横截面的TEM样品制备上，有三种作法：
预先薄化法 (Pre-Thin)、静电吸取法 (Lift-out)、探针取出法 (Omni-probe)
至于FIB的选择，则取决于样品的分析需求。
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材料实验分析 (MA)
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样品制备处理分析
在FIB横截面的TEM样品制备上，有三种作法：
预先薄化法 (Pre-Thin)、静电吸取法 (Lift-out)、探针取出法 (Omni-probe)
至于FIB的选择，则取决于样品的分析需求。